清洗液
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清洗液

所属分类: CMP制程材料

主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、有机物、无机物、金属离子、氧化物等杂质,满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。

产品详情

产品产品介绍分类关键性能描述
DZ38X系列

用于集成电路制造中,金属铜后清洗的碱性配方型清洗液,能有效去除表面颗粒、有机物及金属污染物,并兼具铜保护功能,已在存储器件与逻辑器件量产中使用。

金属类化学机械抛光后清洗液

产品清洗效果优异,安全性能高,Q-time较高,对铜的腐蚀速率低

DZ611

用于集成电路制造中,金属铜及金属钨CMP后清洗的酸性配方型清洗液,应用覆盖多个工艺节点,能有效去除表面颗粒、有机物及金属污染物。

产品清洗效果优异,安全性能高,对铜的腐蚀速率低

DZ101

用于集成电路制造中,金属钨和氮化硅CMP后清洗的配方型清洗液,在涉及多重材料界面的CMP后清洗工艺中具有良好的清洁表现。产品已在逻辑器件量产中使用。

产品对W、SiN、TEOS、TiN和Co等多种材料具有良好的兼容性及清洗效果

DZ105

用于集成电路制造中,金属钨清除沾污的酸性配方型清洗液,旨在针对抛光垫表面清洁,用于降低金属栅极工艺的沾污程度。

产品对W、SiN、Co、Al、Ti、TiN具有极低的腐蚀速率及良好的清洗效果

DZ4XX系列

用于集成电路制造中,金属钨CMP后清洗的弱酸型清洗液,主要用于金属栅极清洗,已在逻辑器件量产中使用。

产品在W和TEOS表面拥有很好的清洗性能,同时对W、SiN、TEOS、TiN以及Co拥有良好的材料兼容性。

DZ6XX系列

用于集成电路制造中,金属铝CMP后清洗的酸性清洗液,具有良好的清洁表现及极低的缺陷率,已在逻辑器件量产中使用。

产品清洗效果优异,与Al、TEOS等多种材料兼容性佳,对铝的腐蚀速率较低。

DZ1XX系列

用于集成电路制造中,多晶硅和氮化硅 CMP后清洗的配方型清洗液,应用于抛光垫表面,能有效去除表面颗粒污染物,已在逻辑器件量产中使用。

非金属类化学机械抛光后清洗液

产品兼容Poly-Si、SiN和TEOS,可以适用于STI、ILD、ILD0以及Poly等制程的辅助清洗

关键词:清洗液

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主要用于去除残留在晶圆表面的微尘颗粒、有机物、无机物、金属离子、氧化物等杂质,满足集成电路制造对清洁度的极高要求,对晶圆生产的良率起到了重要的作用。

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