抛光液
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抛光液

所属分类: CMP制程材料

抛光液是一种颗粒分布匀散的胶体,可使硅片表面产生一层氧化膜,再由抛光液中磨粒将其去除,达到抛光目的。通常抛光液的流速、粘度、温度、成分、pH值等都会对去除效果有影响。

产品详情

产品产品介绍分类关键性能描述
DP53XX、DP55XX、DP59XX系列用于集成电路制造工艺中多晶硅的去除和平坦化,具有高多晶硅去除速率,高稀释比、低缺陷率的特点。产品已经在存储器件量产中使用。多晶硅抛光液

固含量4%-20%;

粒径:60-200 nm;

Poly/OX移除选择比高

DP54XX、DP56XX、DP58XX系列用于集成电路制造工艺中多场景的氮化硅薄膜去除和平坦化,具有碟形效应修复能力强,栅极高度精准控制的优点,在逻辑器件制造中广泛应用。氮化硅抛光液

固含量2%-20%;

粒径:50-100 nm;

SiN/OX移除选择比适中

ZX系列用于集成电路制造工艺中介电层材料(氧化硅)的去除和平坦化,具有高去除速率,高稀释比、低缺陷率的特点。产品已经在存储器件量产中使用。介电材料抛光液

固含量3%-20%,

粒径80-150nm,

OX薄膜移除率高

DP6XXX系列在集成电路制造中,用于硅片表面化学机械抛光(CMP),有去除速率高,表面缺陷率低的特点。硅衬底抛光液

固含量2%-20%;

粒径:50-100 nm;

Si移除率高;

晶圆缺陷率低

DW6XXX系列搭载自产氧化铝研磨粒子,用于逻辑器件制造工艺中金属钨栅极材料的去除和平坦化,具有高平坦化效率,高选择比,低缺陷率的特点,已在逻辑器件量产中使用。钨栅极抛光液

固含量0.01%-0.3%,

粒径60-120nm,W,TiN,OX 移除率均可满足定制化需求,W/OX 移除选择比高

DW3XXX、DW5XXX系列用于集成电路制造工艺中金属钨材料的去除和平坦化,选择比可控,满足选择比定制需求,低缺陷率,已经在逻辑器件量产中使用。钨抛光液

固含量1%-10%,

粒径60-100nm,

W,TiN,OX 移除率均可满足定制化需求,W/OX 移除选择比适中

DB系列用于集成电路制造铜互连工艺中阻挡层的去除和平坦化,选择性抛光铜与阻挡层,高平整度、低缺陷,低腐蚀或碟形凹陷。铜阻挡层抛光液

固含量5~25%,

粒径20-150nm,Cu,OX,BD,Ta,TaN,SiN等薄膜移除率可根据需求定制

DC系列用于集成电路制造工艺中金属铜的去除和平坦化,具有高去除速率,高稀释比,低缺陷等特点。铜抛光液固含量0.5%-2%,粒径30-120nm;Cu移除率高;Cu/OX移除选择比低
ZA系列搭载自产氧化铝研磨粒子,用于集成电路制造工艺中金属铝栅极材料的去除和平坦化修复,具有高平坦化效率,高选择比,低缺陷率的特点。产品已经在逻辑器件制造中使用。铝栅极抛光液固含量0.5%-2%,粒径60-120nm,Al ,TiN,OX等薄膜移除率可根据需求定制,Al/OX 移除选择比高
DS系列搭载自产氧化铈研磨粒子,用于集成电路制造工艺中介电层材料(氧化硅)的去除和平坦化,STI结构的构建中。具有高氧化硅去除速率,高平坦化效率、低碟形效应、低缺陷率的特点。氧化铈抛光液固含量0.5%-5%,粒径80-150nm,OX移除率可根据需求定制,OX/SiN移除选择比高
DLS系列CMP slurry中的核心原料,金属杂质含量低,广泛用于前段工艺及高要求的金属互连工艺。具有硬度低,晶圆缺陷率低的特点。超纯硅磨料固含量15%-21%,粒径35-180nm;pH 6.5~8.6;各项金属杂质<20ppb;可订制磨料颗粒所带电荷
DLSB系列用于集成电路制造工艺中各制程中slurry设计,提供机械研磨力以及化学组分吸附位点,可用作快速去除与选择比控制高的场景。高纯硅磨料固含量20-50%; 粒径20~150nm; pH 8~11;莫氏硬度~6

关键词:抛光液

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抛光液是一种颗粒分布匀散的胶体,可使硅片表面产生一层氧化膜,再由抛光液中磨粒将其去除,达到抛光目的。通常抛光液的流速、粘度、温度、成分、pH值等都会对去除效果有影响。

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